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公司名稱(chēng)：北京中慧天誠(chéng)科技公司
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硅材料電阻率儀的主要特點(diǎn)
發(fā)布時(shí)間：2017-05-02瀏覽次數(shù)：3114返回列表
硅棒電阻率測(cè)試儀簡(jiǎn)介：
電阻率測(cè)試儀基于渦流（Eddy Current）測(cè)試，能夠?qū)枇?、硅棒、硅錠及硅片進(jìn)行無(wú)接觸、傷的體電阻率測(cè)試。
DQZRT-100硅棒電阻率測(cè)試儀_硅材料電阻率儀主要特點(diǎn)：
電阻率測(cè)試儀采用渦流法測(cè)試硅錠、棒、回爐料體電阻率。
無(wú)接觸、傷快速測(cè)試。
測(cè)試前表面處理。
對(duì)于多晶，能夠避免晶界對(duì)測(cè)試的影響。
測(cè)試范圍：0.01-100 ohm.cm (分段測(cè)試）。
可選加無(wú)接觸PN型號(hào)測(cè)試功能。
用戶(hù)可定義分類(lèi)范圍。
