三通道無(wú)線紫外輻照計(jì)  型號(hào)：HAD-XM10

HAD-XM10 型無(wú)線紫外輻照計(jì)采用 SMT 貼片技術(shù)，選用低功耗數(shù)字芯片，儀器外殼為流線型設(shè)計(jì)，探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定，適用性強(qiáng)。該儀器適用于殺菌、水處理、醫(yī)療、育種、光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽

培、以及大規(guī)模集成電路、光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。

HAD-XM10 型無(wú)線紫外輻照計(jì)計(jì)量性能符合《JJG879-2015 紫外輻射照度計(jì)計(jì)量檢定規(guī)程》一級(jí)標(biāo)準(zhǔn)。

特 點(diǎn)

* 光譜及角度特性經(jīng)嚴(yán)格校正

* 主機(jī) IPS 液晶顯示

* 無(wú)線探測(cè)器，遠(yuǎn)距離無(wú)暴露測(cè)量

* 自動(dòng)量程

* 大容量鋰電池

* 電量實(shí)時(shí)顯示

主要技術(shù)指標(biāo)

* 探頭型號(hào)、波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng)如下：

（1）WUV254 探頭：λ：(230～275)nm；λP＝254nm

（2） （2）WUV297 探頭：λ：(275～330)nm；λP＝297nm

（3） （3）WUV313 探頭：λ：(290～340)nm；λP＝313nm

（4）（4）WUV340 探頭：λ：(315～370)nm；λP＝340nm

（5） （5）WUV365 探頭：λ：(320～400)nm；λP＝365nm

（6）（6）WUV420 探頭：λ：(375～475)nm；λP＝420nm

根據(jù)需要測(cè)量的波長(zhǎng)范圍選擇 3 個(gè)探頭

* 輻照度測(cè)量范圍：

(0.1～200000) mW/cm2 * 相對(duì)示值誤差：±8%

* 余弦特性(方向性響應(yīng))誤差：10%

* 線性誤差：±1.5%

* 換檔誤差：±1%

* 短期不穩(wěn)定性：±1%（開機(jī) 30min 后）

* 疲勞誤差：3%

* 零值誤差（滿量程 FS）：±1%

* 響應(yīng)時(shí)間：1 秒

* 使用環(huán)境： 溫度(0～40)℃，濕度＜85%RH

* 尺寸和重量：

主 機(jī)：103mm×76mm×43mm；0.15kg

單個(gè)探頭：f62mm×52mm；0.23kg

* 電源：內(nèi)置可充電鋰電池，配備充電器