硅片紅外探傷系統(tǒng)

北京羲和陽光科技發(fā)展有限公司是一家新能源科技公司，致力于太陽能光伏產(chǎn)業(yè)。提供光伏生產(chǎn)所用硅料的分選、檢驗、檢測設(shè)備及相關(guān)設(shè)備配件，幫助您識別高質(zhì)量的硅料，減少采購或銷售的風(fēng)險。
        
    我公司經(jīng)營的主要產(chǎn)品有：硅料分選測試儀（電阻率，PN型識別）、電阻測試儀、排重?fù)綔y試儀、少子壽命測試儀、測厚儀、碳氧磷硼含量測試儀，表面線痕測試儀，光譜橢偏儀，透過率測試儀、相關(guān)產(chǎn)品配件，以及鎵摻雜劑、母合金摻雜劑，異丙醇，雙氧水等耗材。

    羲和的名稱來源于中國的太陽神羲和女神，作為太陽能光伏產(chǎn)業(yè)的一份子，為提高太陽能電池生產(chǎn)過程的可控性，最大限度的減少過程風(fēng)險，羲和科技在不懈追求、積極探索，我們深感肩頭的重任，我們會倍加努力，持之以恒，給您提供最優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品、最優(yōu)惠的價格和最滿意的服務(wù)。

硅片紅外探傷系統(tǒng) 太陽能多晶硅晶片和單晶硅晶片的生產(chǎn)過程涉及到機(jī)械，濕化學(xué)，熱學(xué)和電子物理過程，從硅碇上切割下的晶片，進(jìn)行蝕刻，摻雜。所有這些工藝過程，以及工藝間的晶片搬運，都會引入應(yīng)力，從而導(dǎo)致晶片的缺陷。例如 微裂紋(包括硅片表層內(nèi)部的微裂紋)、針孔、雜質(zhì)、污垢、內(nèi)部氣泡等。 在制作電池片以前，必須對晶片進(jìn)行檢測分級，穩(wěn)定可靠的識別缺陷。 右圖的樣品顯示的微裂紋，由于機(jī)械拉伸引起。這類缺陷非常嚴(yán)重，因為裂紋就是潛在的斷裂點。 晶片檢測的在線和離線解決方案 本晶片檢測系統(tǒng)依據(jù)太陽能光伏工業(yè)需求進(jìn)行設(shè)計，可集成到生產(chǎn)線上實現(xiàn)在線檢測，也可構(gòu)建獨立離線式檢測系統(tǒng)對一批晶片的缺陷進(jìn)行檢測。 這兩種情況都不需要生產(chǎn)線停頓，都可在生產(chǎn)運轉(zhuǎn)中實現(xiàn)測試。 為了提供精確、穩(wěn)定的檢測結(jié)果，系統(tǒng)利用高分辨率的行掃描攝像頭，利用增強(qiáng)型近紅外光譜，并配備近紅外光學(xué)優(yōu)化透鏡，利用LED光源（避免鹵素光源照明的缺點），獲取穩(wěn)定、高分辨率圖象，實現(xiàn)精確檢測。 強(qiáng)大功能的缺陷分析處理軟件，包括信息預(yù)處理，濾波算法，以及高效的圖象數(shù)據(jù)分析處理算法分辨出灰度圖象非常近似的晶格和微裂紋。避免良品誤判，也避免缺陷晶片混入到下一步工藝— 電池片的生產(chǎn)中。 增加良率，確保有效的質(zhì)量控制，降低了成本，從而實現(xiàn)了生產(chǎn)效率的提高。   技術(shù)參數(shù) 晶片規(guī)格 5〞~6〞/100um~250um厚度 數(shù)據(jù)采集 ＜=1s (圖象記錄時間) 測試節(jié)拍 ＜=1.2 s （連續(xù)兩片晶圓間的間隔） 測試周期 ＜=2s（從開始檢測到檢測結(jié)果顯示） 缺陷類型 微裂紋，大裂紋，針孔，雜質(zhì) 光學(xué)裝置 攝像頭 高分辨率線陣攝像頭，4096象素 分辨率 40um/象素 照明 LED條形光源（近紅外光） 透鏡 高分辨率透鏡 電子設(shè)備 -PC 19〞工業(yè)PC，WinXP操作系統(tǒng)，19〞顯示器 -UPS電源 PC和攝像頭使用不間斷電源（UPS） 接口 數(shù)字I/0接口，24V光耦合信號 網(wǎng)絡(luò) 10/100/1000 Mbit,RJ 45 連接頭 電源 115~230VAC/50-60Hz/＜1200W 尺寸 測量傳感器部分 400mm×500mm×500mm(寬長高)，或采用客戶定制尺寸 照明部分 400 mm×400mm×200mm(寬長高)，或采用客戶定制尺寸   軟件截屏

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