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分析影響EDX鍍層測厚儀測量結(jié)果的因素
發(fā)布時間:2017-12-25瀏覽次數(shù):1467返回列表
EDX鍍層測厚儀是x射線激發(fā)樣品產(chǎn)生的熒光,通過分析熒光的強度來計算出金屬電鍍層厚度的測試設(shè)備。電鍍層測厚儀通過計算機自動操作,自動檢測算出電鍍層厚度,操作方便。任何的儀器設(shè)備都會有故障產(chǎn)生的時候,那么為什么鍍層測厚儀有時測量不準確呢?這是一個比較籠統(tǒng)的問題。下面,我們來分析一下影響本儀器測量結(jié)果的因素:
一、強磁場的干擾
當儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時,測量會受到嚴重的干擾。如果離電磁場非常近時還有可能會發(fā)生死機現(xiàn)象。
二、鍍層測厚儀發(fā)生故障
此時可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。
三、在系統(tǒng)矯正時沒有選擇合適的基體
基體小平面為7mm,小厚度為0.2mm,低于此臨界條件測量是不可靠的。
四、附著物質(zhì)的影響
鍍層測厚儀對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì),以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進行系統(tǒng)矯正時,選擇的基體的表面。
五、人為因素
這種情況經(jīng)常會發(fā)生在新用戶的身上。EDX鍍層測厚儀之所以能夠測量到微米級就因為它能夠采取磁通量的微小變化,并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號。在使用儀器測量過程中如果用戶對本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機體,使磁通量發(fā)生變化造成錯誤測量。所以建議用戶朋友初次使用本儀器時,要先掌握好測量方法。探頭的放置方式對測量有很大影響,在測量中應(yīng)使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時間不宜過長,以免造成基體本身磁場的干擾。