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X熒光光譜儀應(yīng)用
發(fā)布時(shí)間:2019-01-11瀏覽次數(shù):2275返回列表
X熒光光譜儀應(yīng)用
X熒光光譜儀(XRF)根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度,可以測定元素含量。作為一種快速、無損的分析技術(shù),近年來,X熒光光譜儀在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域,特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得zui多也zui廣泛。
XRF在地質(zhì)相關(guān)領(lǐng)域的應(yīng)用不斷在增長,“地質(zhì)學(xué)家、地質(zhì)工程師、實(shí)驗(yàn)室技術(shù)人員、鉆井地質(zhì)學(xué)家、鉆井液錄入工和地球化學(xué)家都使用XRF,”陶氏化學(xué)的研究科學(xué)家Lora Brehm指出。例如,使用便攜XRF系統(tǒng)配合井下采礦和能源勘探,以及化學(xué)地層研究是進(jìn)行核心掃描?!坝捎陔姼旭詈系入x子體發(fā)射光譜 (ICP-OES)和原子吸收光譜(AAS)需要使用酸分解樣品,以至于不適于現(xiàn)場分析,但XRF完全可以,特別是小型化的儀器?!?br />
芝加哥洛約拉大學(xué)副教授Martina Schmeling也表達(dá)了同樣的意見,“便攜性和現(xiàn)場易用性顯然是XRF的發(fā)展趨勢,”并稱XRF在天然氣勘探等領(lǐng)域也可以應(yīng)用,而且該方法具有非常出色的穩(wěn)定性和易用性。“與質(zhì)譜(MS)方法相比,XRF有很多,其中zui主要的一點(diǎn)是不需要載氣和其他消耗品,”她說到?!靶枰攸c(diǎn)記住的一件事是,火星上有XRF,而沒有ICP-MS。”
華盛頓州立大學(xué)的分析化學(xué)助理教授Ursula Fittschen,從更廣泛的角度看待XRF與其他技術(shù)的競爭。他指出,XRF的使用取決于分析物的含量水平和其他因素?!皞鹘y(tǒng)XRF儀器zui具吸引力的是在耐火材料分析等應(yīng)用中具有ppm級水平,”但是,她指出,對于ppb級的微量元素分析, ICP-OES是主力,只要樣品量不受限制、消解又很簡單。對于有限的樣本,微觀分析工具如全反射XRF或石墨爐原子吸收光譜可能是一個(gè)更好的選擇?!皩τ趐pt水平的檢測,需要ICP-MS,”她補(bǔ)充道。
幾個(gè)都提到了如鋼鐵行業(yè)的質(zhì)量控制過程中的應(yīng)用,“鋼鐵產(chǎn)品的精度非常高,波散XRF是必要的,”京都大學(xué)教授Jun Kawai說,“一臺有40塊晶體的XRF儀器能夠同時(shí)測量40個(gè)元素?!?br />
XRF在工業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用不只是用于質(zhì)量控制,CTL集團(tuán)的科學(xué)家Don Broton指出。“物相鑒定和無標(biāo)分析的XRF增強(qiáng)了制造工廠迅速評估替代材料和配方的能力,以及不同制造過程的副產(chǎn)品,”他說。“更好地表征這些‘廢品’使其能夠得到更多的循環(huán)使用,會加快帶來一個(gè)綠色的未來。”
維也納大學(xué)教授Christina Streli表示,“未來,XRF在文物、環(huán)境、醫(yī)學(xué)和其他領(lǐng)域的應(yīng)用價(jià)值,將會被越來越多的人看到?!?br />
洛薩拉摩斯實(shí)驗(yàn)室的George Havrilla同意這一觀點(diǎn),并稱,在文物研究領(lǐng)域XRF已經(jīng)證明了它的價(jià)值?!癿icro XRF對藝術(shù)品的快速成像分析將給藝術(shù)起源帶來新見解,”他說?!斑@些技術(shù)揭示了色素是在不斷降解的,使我們明白,我們今天看到的一些藝術(shù)品的顏色與當(dāng)初藝術(shù)家畫上去時(shí)是不一樣的?!?br />