[關(guān)于鍍層測(cè)厚儀您需要掌握的些知識(shí)要點(diǎn)] 鍍層測(cè)厚儀采用無(wú)損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測(cè)速度快，能使大量的檢測(cè)涂層作經(jīng)濟(jì)地行。隨著科學(xué)術(shù)的日益步，特別是近年來(lái)引入微機(jī)術(shù)后，采用磁性法測(cè)量涂層和渦流法的測(cè)厚儀向微型、智能、多能、、實(shí)用化的方向了步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1微米，度可達(dá)到1%，有了大幅度的提。鍍層測(cè)厚儀適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便且價(jià)廉，是業(yè)和科研使用蕞廣泛的涂層測(cè)厚儀器。
    涂層和覆層厚度測(cè)量已成為加業(yè)、表面程質(zhì)量檢測(cè)的重要環(huán)，是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)等質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)的備手段。為使產(chǎn)品化，我出口商品和涉外項(xiàng)目中，對(duì)涂層覆層厚度測(cè)量有了明確的要求和規(guī)定。
涂層覆層厚度的測(cè)量方法主要有：楔切法涂層測(cè)量，光截法涂層測(cè)量，電解法涂層測(cè)量，厚度差測(cè)量法，稱重法涂層測(cè)量，X射線熒光法涂層測(cè)量，β射線反向散射法涂層測(cè)量，電容法涂層測(cè)量、磁性測(cè)量法涂層測(cè)量及渦流測(cè)量法涂層測(cè)量等。這些方法中前五種是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。
    X射線和β射線法是無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量涂層厚度，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍較小。因有放射源，使用者須遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測(cè)薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的緣覆層涂層測(cè)厚時(shí)采用。
    影響鍍層測(cè)厚儀測(cè)量度的原因：
    (1) 覆蓋層厚度大于25m時(shí),其誤差與覆蓋層厚度近似成正比；
    (2) 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)； 
    (3) 何種測(cè)厚儀都要求基體金屬有個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響；
    (4) 渦流測(cè)厚儀對(duì)式樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),即對(duì)靠近式樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的；
    (5) 試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大；
    (6) 基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的度,粗糙度增大,影響增大；
    (7) 渦流測(cè)厚儀對(duì)妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感.因此測(cè)量前應(yīng)清除測(cè)頭 和覆蓋層表面的污物;測(cè)量時(shí)應(yīng)使測(cè)頭與測(cè)試表面保持恒壓垂直接觸。