天瑞儀器RoHS測試儀應(yīng)用于海關(guān)、質(zhì)檢局、三方測試機構(gòu)等專業(yè)測試機構(gòu)QA檢驗，電子通信、文體設(shè)備、紡織品、皮革、食品、家用電器等制業(yè)的QC，IQC、IPQC、QA檢驗。

天瑞儀器RoHS測試儀的術(shù)原理：
放射性同位素源或X射線發(fā)生器放出的X射線或Γ射線與樣品中元素的原子相互作用，逐出原子內(nèi)層電子。當外層電子補充內(nèi)層電子時，會放射該原子所固有能量的X射線－－特征X射線。
不同元素特征X射線能量各不相同，依此行定性分析；再根據(jù)特征X射線強度線強度大小，可行定量分析。
可用函數(shù)關(guān)系式表示為：
C=f(k1I1, k2I2, k3I3...)
式中：Kn(n=1,2,3…)表示n號元素的待定系數(shù)；In(n=1,2,3…)表示n號元素釋放的特征X射線強度，由此可知只要通過標定確定系數(shù)Kn之后便可行物質(zhì)中元素的定量分析了。

測試儀的分析原理：
ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應(yīng)被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特征信息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；K為不型能量探測器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特征信息。
待測元素的特征譜線需要采用定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還須采用定的樣品制備術(shù)，并對獲得的強度行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。

天瑞儀器RoHS測試儀，原理是利用X射線檢測ROHS標準規(guī)定中的元素的含量。目前市場上常見的類型是X射線熒光分析儀，又分為能量色散型和波長色散型，能量色散型因其術(shù)原理及結(jié)構(gòu)比波長色散型簡單，現(xiàn)市場上常見。