JDSU MAP 光學(xué)測(cè)試平臺(tái) MAPA+23 Multiple Application Platform 一套系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了密集多通道的波長(zhǎng)和功率精度可調(diào)可變的光源+光功率+光衰減+光開關(guān)自動(dòng)控制測(cè)試。

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JDSU MAP 光學(xué)測(cè)試平臺(tái) MAPA+23 Multiple Application Platform

一套系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了密集多通道的波長(zhǎng)和功率精度可調(diào)可變的光源+光功率+光衰減+光開關(guān)自

動(dòng)控制測(cè)試。
現(xiàn)貨租售，提供多功能光測(cè)試平臺(tái)模塊MAP。

 JDSU多應(yīng)用平臺(tái)（MAP-200）是一個(gè)光學(xué)測(cè)試和測(cè)量平臺(tái)，是光傳輸網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的研發(fā)和生

產(chǎn)測(cè)試的專用工具。當(dāng)今瞬息萬變的光通訊產(chǎn)品市場(chǎng)，需要在能夠提高生產(chǎn)率的技術(shù)和工

具上進(jìn)行投資，而即使在嚴(yán)格的環(huán)境下，MAP-200可擴(kuò)展測(cè)試平臺(tái)也是合適之選。

基于上一代多應(yīng)用平臺(tái)（MAP），新MAP-200的不同之處在于將更多的模塊組合放在了這個(gè)

密集和具有可配置性的平臺(tái)上。無論是對(duì)于研發(fā)實(shí)驗(yàn)室，還是產(chǎn)品生產(chǎn)線，MAP-200

都是測(cè)試工具的優(yōu)選擇，功能涵蓋從插入損耗測(cè)試到色散代價(jià)測(cè)試。

應(yīng)用
能夠?qū)饫w收發(fā)器和光纖收發(fā)組件進(jìn)行測(cè)試
允許的無源/有源器件，激光以及放大器測(cè)試
便于10G和40G系統(tǒng)和子系統(tǒng)測(cè)試
MAP寬帶光源
MAP摻鉺光纖放大器
MAP法布里-珀羅激光
MAP大信道計(jì)數(shù)轉(zhuǎn)換器
MAP發(fā)光二管光源
MAP Insertion Loss and Return Loss Test Modules
MAP偏振控制器
MAP光功率計(jì)
MAP小信道計(jì)數(shù)轉(zhuǎn)換器
MAP Swept Wavelength Test System
MAP可調(diào)節(jié)過濾器
MAP實(shí)用程序
MAP可變反射器
MAP可變光衰減器
MAP可調(diào)諧分布反射（DBR）激光器
 
 

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