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價(jià)格:電議
所在地:浙江 寧波市
型號(hào):
更新時(shí)間:2016-09-24
瀏覽次數(shù):889
公司地址:浙江余姚低塘蘆城立交橋東側(cè)20米(329國(guó)道旁)
莫志明(先生)
部件用途:
a.明場(chǎng)觀察:使用亮度可調(diào)的同軸照明,對(duì)晶體、集成電路的檢驗(yàn)、制造業(yè)的裝配、零件檢測(cè)和品質(zhì)控制。
b.透射觀察:采用亮度可調(diào)的透射照明,可觀察透明樣品,尤其對(duì)液晶顯示屏的檢測(cè)效果更好,能清楚的看到發(fā)光屏的三色模塊,因此能檢測(cè)顯示屏的好壞,可判斷其質(zhì)量。
c.偏光觀察:系統(tǒng)內(nèi)裝置偏光機(jī)構(gòu),起偏鏡固定在照明系統(tǒng);檢偏鏡裝置在成像系統(tǒng)、轉(zhuǎn)動(dòng)100度可調(diào),便于正交觀察。主要對(duì)金相樣品進(jìn)行正交偏振光觀察,還可應(yīng)用于礦物、化學(xué)等領(lǐng)域。
d.DIC觀察——微分干涉觀察:在明場(chǎng)、偏光正交的系統(tǒng)里再插入DIC棱鏡裝置(渥拉斯頓棱鏡),(DIC)作為一種具前途的要析檢驗(yàn)方法,具有對(duì)金相樣品的制備要求較低,所觀察到的樣品各組成之間的相對(duì)層次關(guān)系突出,呈明顯的浮雕狀,對(duì)顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能作出正確的判斷,能夠容易判斷許多明場(chǎng)下所看不到的或難于判別的一些結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)或缺陷,可進(jìn)行彩色金相攝影等優(yōu)點(diǎn)。但在目前的金相檢驗(yàn)工作中,(DIC)法還利用得很少,特別是對(duì)液晶顯示屏導(dǎo)電板的檢測(cè)效果更好,能夠清楚的觀察到導(dǎo)電板基板上的導(dǎo)電粒子。使用DIC技術(shù),可以使物體表面微小的高低差展現(xiàn)出清晰,輪廓突出,帶立體感的浮雕成像,大地提高圖像的對(duì)比度。
規(guī)格配置:
遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng):f=200mm
電子放大倍數(shù):50、100(選購(gòu))、200(選購(gòu))、500(選購(gòu))
長(zhǎng)工作距離:5-45mm
手動(dòng)調(diào)焦范圍:60mm
工作臺(tái):260*220mm
玻璃臺(tái):170*150mm
移動(dòng)范圍:X:正負(fù)75mm,Y:正負(fù)75mm
照明系統(tǒng):垂直照明、透射照明