量子效率

高達(dá)90％

QE65000型科研級(jí)光譜儀是我們研發(fā)的產(chǎn)品中靈敏的光譜儀，其量子效率（其定義是光子轉(zhuǎn)變成光電子的效率）可以達(dá)到90％。

QE65000型科研級(jí)別光譜儀含有一個(gè)對(duì)紫外線感應(yīng)能力的日本濱松出品的薄型背照式（Back-thinned）探測(cè)器。它的二維像素排列（水平1044像素×垂直64像素）可以響應(yīng)波長(zhǎng)范圍為200～1100nm的光信號(hào)。特定的光譜范圍和解析度是由用戶的光柵和入射光狹縫的選擇來決定的。探測(cè)器的象素列在數(shù)據(jù)輸出前就累加的，這樣可以使采集數(shù)據(jù)的噪聲小化。

用所包含的熱電制冷器，檢測(cè)器可以被冷卻到零下20℃，以減少暗噪聲。噪聲和暗信號(hào)的減少可以使光譜儀的積分時(shí)間達(dá)到15分鐘，并因此大大提高低亮度級(jí)別測(cè)試時(shí)的檢測(cè)限。

光譜儀的低噪聲檢測(cè)器與16位的模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換器使得動(dòng)態(tài)范圍達(dá)到25000:1，信噪比大于1000:1。

更高的系統(tǒng)靈敏度

由于二維檢測(cè)器使光譜儀能很好地利用入射光狹縫的高度，QE65000型科研級(jí)光譜儀的靈敏度得到了一定的提高。在我們生產(chǎn)的其它光譜儀中，光進(jìn)入光具座是通過入射光狹縫的寬度來調(diào)節(jié)的；狹縫的高度是沒有影響的，因?yàn)榫€性檢測(cè)器不能有效地收集狹縫的整個(gè)高度的光。而使用QE65000型科研級(jí)光譜儀的二維檢測(cè)器，我們就可以更好地利用來自高度方向的額外的光信號(hào)。

優(yōu)異的紫外光響應(yīng)能力

QE65000型科研級(jí)別光譜儀的薄型背照式（Back-thinned）探測(cè)器對(duì)紫外線具有優(yōu)異的響應(yīng)能力，并且不需要外加涂層來提高其性能。

滿足低亮度級(jí)別應(yīng)用的條件

QE65000型科研級(jí)光譜儀是一個(gè)適合在低亮度應(yīng)用的好選擇，包括在熒光、拉曼光譜、DNA測(cè)序、天文學(xué)和薄膜反射等各個(gè)方面。用戶可以根據(jù)需要，將光譜儀的積分時(shí)間（類似于照相機(jī)的快門速度）設(shè)置成8ms～15min內(nèi)的數(shù)值，而不會(huì)產(chǎn)生光學(xué)失真。下面是一個(gè)利用QE65000型科研級(jí)光譜儀、CUV-ALL 四方式比色皿架 、和PX-2型氙光源進(jìn)行熒光分析的實(shí)例。特別說明：為了對(duì)PX-2型氙光源進(jìn)行外部觸發(fā)操作，還需要HR4-BREAKOUT外接盒