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價格:電議
所在地:北京
型號:wi100038
更新時間:2019-09-27
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公司地址:北京市海淀區(qū)上地信息產(chǎn)業(yè)基地三街1號樓四層C段
李榮(女士)
北京若水合科技有限公司。為各行業(yè)用戶提供了大量的產(chǎn)品和服務,尤其在石油、化工、環(huán)保、電子、冶金、機械、光學、通訊、科技教學、醫(yī)療衛(wèi)生等領域,與眾多知名廠家有密切合作關系,不僅能為用戶提供廣泛的產(chǎn)品選擇機會,獲得性能價格比較好的產(chǎn)品,還可以為用戶快捷提供科技信息。與此同時,我公司還向廣大用戶推薦使用國產(chǎn)價格適中、性能可靠、使用穩(wěn)定,符合國家質(zhì)量標準的儀器、儀表和設置、儀表制造廠商定有代理協(xié)議。為環(huán)保、安全生產(chǎn)、醫(yī)療保健、教育科研、石化、冶金建材、等各行各業(yè)提供多種儀器試劑、維修等產(chǎn)品及服務。
概述
手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。
儀器成套組成:由主機、選配的四探針探頭等二部分組成,也可加配測試臺。
儀器所有參數(shù)設定、功能轉(zhuǎn)換全部采用輕觸按鍵輸入;具有零位、滿度自校功能;手動/自動轉(zhuǎn)換量程可選;測試結(jié)果由數(shù)字表頭直接顯示。本測試儀采用可充電電池供電,適合手持式變動場合操作使用!
探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配專用探頭,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、結(jié)構(gòu)緊湊、使用簡便等特點。
儀器適用于半導體材料廠、器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的手持式導電性能的測試。
基本技術參數(shù)
1. 測量范圍、分辨率
電 阻: 0.010Ω ~ 50.00kΩ, 分辨率0.001Ω ~ 10 Ω
電 阻 率: 0.010Ω-cm~ 20.00kΩ-cm, 分辨率0.001Ω ~ 10 Ω-cm
方塊電阻: 0.050Ω/□ ~ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001Ω ~ 10 Ω/□
2. 可測材料尺寸
手持方式不限材料尺寸,但加配測試臺則由選配測試臺決定如下:
直 徑:圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm。
方測試臺直接測試方式180mm×180mm。
長(高)度:測試臺直接測試方式 H≤100mm。.
測量方位: 軸向、徑向均可.
3. 量程劃分及誤差等級
量程(Ω-cm/□) |
2.000 |
20.00 |
200.0 |
2.000k |
20.00k |
電阻測試范圍 |
0.010~2.200 |
2.000~22.00 |
20.00~220.0 |
0.200~2.200k |
2.000~50.00k |
電阻率/方阻 |
0.010/0.050~2.200 |
2.000~22.00 |
20.00~220.0 |
0.200~2.200k |
2.000~20.00k/100.0k |
基本誤差 |
±1%FSB±2LSB |
±2%FSB±2LSB |
4) 適配器工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或電池供電
5) 外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
凈 重:≤0.3kg