FT-341雙電測電四探針電阻率測試儀廣泛用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試

ROOKO[瑞柯微]儀器經營--專注于粉體和材料測試與分析儀器的產銷及服務；產品服務于科研、院校、實驗室及企業(yè)研發(fā)部門；“質量為本、服務先行”之經營理念；致力于創(chuàng)新為客戶提供解決方案；堅持差異化經營，求同存異；以創(chuàng)新，改變認知，提升品質為使命；采用新技術、新方法、提升客戶價值為全員謀福祉為愿景；堅持修己、求進、創(chuàng)新為價值觀；與廣大用戶共進步，共發(fā)展.目前經營如下系列產品：1.粉體、顆粒測試儀器系列；2.材料電性能測試儀系列；3.流變儀和粘度計系列；4.熱分析儀器系列.

1.粉體、顆粒測試儀器系列：粉末流動性測試儀,堆密度儀,粉體綜合特性測試儀,粉體屈服強度測試儀.粉體流變儀,粉末電阻率測試儀,休止角測定儀,安息角測定儀,松裝密度測定儀,振實密度儀,斯柯特容量計,霍爾流速計,表觀密度測定儀,顆粒強度測定儀.

2.導體/半導體/絕緣材料電性能測試系列：料表面/體積電阻率測試儀、四探針方阻/電阻率測試儀、高溫電阻率測試系統(tǒng)、電壓降測試儀.3.流變儀和粘度計系列；4.熱分析儀器系列.

FT-341雙電測電四探針電阻率測試儀

廣泛用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等
FT-341雙電測電四探針電阻率測試儀

本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產品及測試項目要求選購.
FT-341雙電測電四探針電阻率測試儀

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

參數(shù)資料

1.方塊電阻范圍：10^-5～2×10⁵Ω/□

2.電阻率范圍：10^-5～2×10⁶Ω-cm

3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100 mA

4.電流精度：±0.1%讀數(shù)

5.電阻精度：≤0.3%

6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

7.測試方式: 雙電測量

8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W

9.整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結果）

10.選購功能: 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺

11.測試探頭： 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

FT-341雙電測電四探針電阻率測試儀

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