X熒光射線膜厚與元素(RoHS)分析儀XRF-2000(R)系列H-TypeL-TypePCB-Type介紹：X熒光射線膜厚分析儀是利用XRF原理來(lái)分析測(cè)量金屬厚度

我司是精密測(cè)試儀器代理商，為在中國(guó)獨(dú)家代理美國(guó)Thermo-Electron X-射線測(cè)厚儀及德國(guó)ROENTGENANALYTIK Compact eco系列X-射線測(cè)厚儀。此兩種儀器主要用于鍍層或涂層厚度的測(cè)量，而且特別適合于對(duì)微細(xì)表面積或超薄鍍層的測(cè)量。以下我們公司其他主要產(chǎn)品： 　　新加坡QTEST CIMS 特性阻抗測(cè)試儀 　　韓國(guó)Micro Pioneer XRF-2000系列測(cè)厚儀 　　美國(guó)Solar Metrology 太陽(yáng)能薄膜電池厚度測(cè)量?jī)x 　　日本KYORITSU WAK-水質(zhì)離子測(cè)試包 　　美國(guó)WALCHEM（禾威）電鍍藥液自動(dòng)添加系統(tǒng) 　　美國(guó)OMEGA 600SMD離子污染測(cè)試儀 　　美國(guó)UPA / VEECO非破壞性厚度測(cè)試儀 　　美國(guó)EXTEC研磨 / 拋光器材及消耗品 　　英國(guó)JENWAY分光光度計(jì) 　　美國(guó)Kocour庫(kù)侖測(cè)厚儀、侯氏槽、陰/陽(yáng)極片、離心機(jī)等 　　德國(guó)SCAN-DIA研磨 / 拋光器材及消耗品 　　美國(guó)INNOV-X伊諾斯RoHS分析儀(手提式:XRF 6500，臺(tái)式:Ray-tek1800) 　　美國(guó)ECI電鍍藥液分析系統(tǒng) 　　美國(guó)DICKSON/DeltaTRAK/OMEGA溫濕度記錄儀 　　日本SHIMADZU(島津)分光光度計(jì)、X射線熒光分析儀 　　日本IWAKI工業(yè)用泵 　　韓國(guó)K-Mac ST4080-OSP 光學(xué)測(cè)厚儀 　　美國(guó)SPELLMA******??電源供應(yīng)器 　　日本KETT磁感/渦流涂層測(cè)試儀 　　俄羅斯INTRON PTH-1/ITM-52手提式線路板孔銅測(cè)厚儀 　　美國(guó)RPS可焊性測(cè)試儀 　　美國(guó)UNITRON工業(yè)用顯微鏡系統(tǒng)及表面光滑度測(cè)試儀 　　美國(guó)EXTECH多用途萬(wàn)用表 　　美國(guó)CECO板材厚度測(cè)試儀、銅箔剝離強(qiáng)度儀 　　一直致力于為PCB廠商，電鍍行業(yè)，科研機(jī)構(gòu)，半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和優(yōu)質(zhì)的售后服務(wù)。【shanghai yilang yiqi youxiangongsi】

X熒光射線膜厚與元素(RoHS)分析儀 XRF-2000 (R)系列 
H-Type
L-Type
PCB-Type
  
 介紹：

   X熒光射線膜厚分析儀是利用XRF原理來(lái)分析測(cè)量金屬厚度及物質(zhì)成分，可用于材料的涂層/鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測(cè)。XRF-2000系列分為以下三種：

1. H-Type: 密閉式樣品室，方便測(cè)量的樣品較大，高度約100mm以下。

2. L-Type: 密閉式樣品室，方便測(cè)量 樣品較小，高度約30mm以下。

3. PCB-Type: 開放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測(cè)。

4. R-Type: 結(jié)合膜厚量測(cè)，元素成份及含量分析功能(RoHS分析儀)。
 
應(yīng)用:

  測(cè)量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分、含量或者是厚度，其可偵測(cè)元素的范圍：Ti(22)~U(92)。RoHS: Al(13)選配。
 
行業(yè):

  五金類、螺絲類、PCB類、 連接器端子類行業(yè)、電鍍類、金飾相關(guān)行業(yè)等。
 
特色:

 非破壞，非接觸式檢測(cè)分析，快速精準(zhǔn)。

 可測(cè)量高達(dá)六層的鍍層(五層厚度+底材)并可同時(shí)分析多種元素。

 兼容Microsoft 微軟作業(yè)系統(tǒng)之測(cè)量軟件，操作方便，直接可用Office軟件編輯報(bào)告。

 標(biāo)準(zhǔn)配備 : 溶液分析軟件，可以分析電鍍液成份與含量。

 準(zhǔn)直器口徑多種選擇，可根據(jù)樣品大小來(lái)選擇準(zhǔn)值器的口徑。

 移動(dòng)方式： 全系列全自動(dòng)載臺(tái)電動(dòng)控制，減少人為視差。

 雷射 自動(dòng)對(duì)焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

 獨(dú)特2D與3D或任意位置表面量測(cè)分析。

 元素成份與含量分析1ppm偵測(cè)極限，兼容于RoHS/WEEE/ELV有害物質(zhì)檢測(cè)分析。(選配)

 標(biāo)準(zhǔn)ROI軟件搭配內(nèi)建多種專業(yè)報(bào)告格式，亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計(jì)等作成完整報(bào)告。

 光學(xué)20X影像放大功能，更能精確對(duì)位。

 單位選擇：mils、uin、mm、um。

 優(yōu)于美制儀器的設(shè)計(jì)與零件可 靠度以及擁有價(jià)格與零件的優(yōu)勢(shì)。

 儀器正常使用保固期一年，強(qiáng)大的專業(yè)技術(shù)支援及良好的售后服務(wù)。

 測(cè)試方法符合ISO 3497、ASTM B568及DIN 50987。 
 

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