KoreSurfaceSeerS在TOF-SIMS（飛行時間二次離子質(zhì)譜儀）系列中，是一款高性價比且經(jīng)久耐用的產(chǎn)品。它是研究樣品表面化學(xué)成分的理想選擇，適用于研發(fā)和工業(yè)質(zhì)量控制應(yīng)用。

那諾中國有限公司是一家高科技技術(shù)服務(wù)公司，專注于為大中華區(qū)域（包括中國大陸、香港、澳門和臺灣）的高校、科研院所、企業(yè)研發(fā)與生產(chǎn)提供基于飛行時間質(zhì)譜儀的高性能科學(xué)儀器。 我們可以提供高性價比的定制化儀器 ，因為我們能夠重復(fù)使用現(xiàn)有的設(shè)計模塊，這些來源于我們龐大的、 有據(jù)可查的后臺目錄 中。這些預(yù)先存在的機械信息，結(jié)合所需要的任何一次性工程，使我們能夠根據(jù)客戶的具體要求生產(chǎn)出價格合理的儀器。 我們的飛行時間二次離子質(zhì)譜儀（TOF-SIMS），不僅適用于實驗室實驗，也適用于現(xiàn)場實時分析。我們的儀器在環(huán)境科學(xué)、工業(yè)和生產(chǎn)、生物科學(xué)、材料科學(xué)、半導(dǎo)體、電子等行業(yè)都有廣泛的應(yīng)用。

Kore SurfaceSeer S在TOF-SIMS （飛行時間二次離子質(zhì)譜儀） 系列中，是一款高性價比且經(jīng)久耐用的產(chǎn)品。它是研究樣品表面化學(xué)成分的理想選擇，適用于研發(fā)和工業(yè)質(zhì)量控制應(yīng)用。

飛行時間二次離子質(zhì)譜儀（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry，簡稱TOF-SIMS），也叫靜態(tài)二次離子質(zhì)譜，是飛行時間和二次離子質(zhì)譜結(jié)合的一種新的表面分析技術(shù)。TOF-SIMS具有高分辨、高靈敏度、精確質(zhì)量測定等性能，是目前高技術(shù)領(lǐng)域廣泛使用的分析技術(shù)。

Kore SurfaceSeer S 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀使用的是5keV Cs+離子束（可選惰 性氣體Ar+），該離子束是脈沖式的，以限度地減少連續(xù)離子束可能造成的表面損傷。 在每100μs TOF 循環(huán)中，該離子槍的脈沖時間僅為60ns，因此，主光束提供的電流比連續(xù)打開時少1000倍以上。典型的10s實驗時間所產(chǎn)生的電流僅相當于幾毫秒的連續(xù)光束電流。 要達到所謂的“靜態(tài)SIMS”極限，需要在一個點上進行幾分鐘的分析，在這個點上，表面損傷在數(shù)據(jù)中變得清晰可見(取決于焦點和光 束電流)。盡管離子劑量較低，這款TOF分析儀還是非常高效的，這就說明了它具有較高的二次離子數(shù)據(jù)速率（即使在離子產(chǎn)率相對較低 的聚合物上，也通常為5000 c/s）。

SurfaceSeer S 儀器特點：

• 配備5keV Ar+/Cs+脈沖式離子束，以限度地減少連續(xù)離子束可能造成的表面損傷，實現(xiàn)樣品“無損”分析；

• 針對工業(yè)領(lǐng)域的低成本TOF-SIMS儀器；

• 均適用于導(dǎo)電物體表面和絕緣物體表面的分析 ；

• 可在1~2min內(nèi)實現(xiàn)高速率的正負質(zhì)譜分析；

• 質(zhì)量分辨率可達 >2,500 m/δm (FWHM)；

• 適用于導(dǎo)電物體表面和絕緣物體表面的分析。

SurfaceSeer S 應(yīng)用領(lǐng)域:

• 表面化學(xué)

• 黏附力

• 分層

• 印刷適性

• 表面改性

• 等離子體處理

• 痕量分析（表面ppm）

• 催化劑

• 同位素分析

• 表面污染

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