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公司名稱：北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司
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電話：010-60414386
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探針臺(tái)搭配產(chǎn)品/半導(dǎo)體參數(shù)分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀/其他類型源表
產(chǎn)品簡介：探針臺(tái)搭配產(chǎn)品/半導(dǎo)體參數(shù)分析儀/矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀/其他類型源表
價(jià)格：面議
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非標(biāo)探針臺(tái)
產(chǎn)品簡介：非標(biāo)探針臺(tái)/微型探針臺(tái)/倒裝手動(dòng)測試夾具/光電流測試顯微鏡/TEC制冷卡盤/磁場探針臺(tái)(無磁設(shè)計(jì))/110g以上高頻測試探針臺(tái)/自動(dòng)測試系統(tǒng)/可升降平臺(tái)/高精度納米探針座/毫米級(jí)手持式探針夾具/ FA失效分析探針臺(tái)
價(jià)格：面議
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JKZC-DM系列基礎(chǔ)型探針臺(tái)
產(chǎn)品簡介：JKZC-DM系列基礎(chǔ)型探針臺(tái)是我司一款基于高校教育與實(shí)驗(yàn)室而研發(fā)的基礎(chǔ)型晶圓測試探針臺(tái)。其結(jié)構(gòu)緊湊，設(shè)計(jì)精密，價(jià)格實(shí)惠，配置靈活，極具性價(jià)比。在高等院校教學(xué)和小型實(shí)驗(yàn)室科研過程中得到了廣泛運(yùn)用，配合對應(yīng)的儀器儀表，用于測試各類器件的IV、CV、l-t、V-t,光電信號(hào)，1/f噪聲測試，器件表征測試，RF射頻等。如 果您的
價(jià)格：面議
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JKZC-DN系列增強(qiáng)型探針臺(tái)
產(chǎn)品簡介：JKZC-DN系列增強(qiáng)型探針臺(tái)是我司一款增強(qiáng)型晶圓測試探針臺(tái)，最大可完成12英寸晶圓的電學(xué)測試。此系列探針臺(tái)釆 用高剛性顯微鏡龍門結(jié)構(gòu)，顯微鏡可X-Y-Z方向進(jìn)行精密位移調(diào)節(jié)?？ūP具備上下調(diào)節(jié)功能,可以使探針與 樣品快速分離，提高測試效率，在科研單位和半導(dǎo)體工廠都得到了廣泛運(yùn)用，配合對應(yīng)的儀器儀表,可以完 成集成更多
價(jià)格：面議
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JKZC-DSH系列雙面探針臺(tái)
產(chǎn)品簡介：JKZC-DSH系列雙面探針臺(tái)是我司自主研發(fā)的一款雙面探針臺(tái)，最大可完成12英寸晶圓的正反面點(diǎn)針測試。在具備常 規(guī)探針臺(tái)的功能基礎(chǔ)上,可用于晶圓和PCB板的測試，對晶圓或者PCB板正面和背面同時(shí)扎針以實(shí)現(xiàn)各種 光/電性能測試需求的測試，或背面點(diǎn)針，正面收集光線等,運(yùn)用十分豐富。該定制探針臺(tái)具有優(yōu)良的機(jī)械系統(tǒng)，穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)
價(jià)格：面議
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JKZC-UC系列高低溫探針臺(tái)
產(chǎn)品簡介：JKZC-UC系列高低溫探針臺(tái)是一款在非真空條件下實(shí)現(xiàn)低溫環(huán)境的測試探針臺(tái)。該產(chǎn)品釆用液氮或者空氣壓縮機(jī)制冷 ,自動(dòng)控溫，設(shè)備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室，一方面可以屏蔽無線電磁干擾，另外一方面也可以保持氮?dú)庹龎涵h(huán)境下樣品在低溫時(shí)無結(jié)霜。此設(shè)備對于一些有溫度需求的測試，尤其是低溫，運(yùn)用非常廣泛。
價(jià)格：面議
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JKZC-DH系列綜合型探針臺(tái)
產(chǎn)品簡介：JKZC-DH系列綜合型探針臺(tái)是一款綜合型晶圓測試探針臺(tái)，最大可完成12英寸晶圓的電學(xué)測試。此系列探針臺(tái)設(shè)備配 置十分豐富，不僅具備龍門架結(jié)構(gòu)和卡盤的升降功能，還具備業(yè)內(nèi)領(lǐng)先的卡盤快速移動(dòng)技術(shù)，可快速定位 樣品位置,提高測試效率。另外針座平臺(tái)具備三段式升降功能,在不失焦的情況下可以使樣品和探針做到 快速分離，同時(shí)
價(jià)格：面議
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JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺(tái)
產(chǎn)品簡介：JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺(tái)是我司自主研發(fā)的一款在極端環(huán)境下給樣品加載電學(xué)信號(hào)的設(shè)備。可以實(shí)現(xiàn) 器件及材料表征的IV/CV特性測試，射頻測試，光電測試等。通過液氮或者壓縮機(jī)制冷，可以在防輻射屏內(nèi)營造一個(gè)穩(wěn)定的測試環(huán)境。在特殊材料，半導(dǎo)體器件等研究方向具有廣泛運(yùn)用。
價(jià)格：面議
